Первак Юрій Олександровичдоктор фізико-математичних наук, професор

тел.: (044) 259-05-11

Основна інформація

Галузі наукових досліджень:

  • фізика тонких плівок
  • фотонні кристали
  • лазерна фізика
  • синтез багатошарових структур
  • оптичні властивості наноструктур
  • оптична спектроскопія кристалів

Викладацький досвід

Протягом багатьох років читає лекції з курсів напівпровідникової електроніки, оптоелектроніки, оптики багатошарових покриттів. У різні роки читав лекції з фізики поверхні, актуальних проблем електроніки, технології напівпровідників.

Найважливіші наукові праці

Монографії:

  1. Первак Ю. О., Первак В. Ю., Куницький Ю. А. Світлохвильова електроніка. К.: Академперіодика, 2011. 268 с.
  2. Шпак А. П., Первак В. Ю., Куницький Ю. А., Первак Ю. О. Фотонні кристали. Фізика та застосування. К.: Академперіодика, 2006, 120 с.

Навчальні посібники:

  1. Первак В. Ю., Шпак А. П., Первак Ю. О. Куницька Л. Ю. Фізика фотонних кристалів. К.: Академперіодика, 2007, 304 с.
  2. Первак Ю. О. Оптика багатошарових покриттів. ВПЦ «Київський університет», К.: 2005, 247 с.

Статті у рецензованих наукових журналах:

  1. V. Pervak, V. Fedorov, Yu. A. Pervak, and M. Trubetskov. Empirical study of the group delay dispersion achievable with multilayer mirrors. Opt. Express 21, Issue 15, 18311-18316 (2013) opticsinfobase.org
  2. V. Pervak, Yu. A. Pervak. Suppression of High-Reflection Fifth-, Sixth-, and Seventh-Order Bands in Wide-Band Interference Filters. Journal of Applied Spectroscopy, 70, Issue 5, 700-705 (2003) link.springer.com
  3. V. Yu. Pervak, Yu. A. Pervak. Suppression of background transmission of interference filters. Optics and Spectroscopy, 88, Issue 3, 455-458 (2000) link.springer.com
  4. Yu. A. Pervak, I. V. Fekeshgazi. Spectral properties of interference polarizers. Journal of Applied Spectroscopy, 61, Issue 5-6, 812-816 (1994) link.springer.com
  5. M. P. Lisitsa, S. V. Orlov, Yu. A. Pervak, I. V. Fekeshgazi. Multilayered coatings with suppression of two neighboring high-reflection bands. Journal of Applied Spectroscopy, 47, Issue 2, 846-848 (1987) link.springer.com